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| 供貨周期 | 一個(gè)月 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,能源 |
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覆蓋擴(kuò)展技術(shù)（CET）是 VTEP 和邊界掃描的混合技術(shù)。它結(jié)合了 VTEP 和邊界掃描的優(yōu)點(diǎn)，并增強(qiáng)了是德在線測(cè)試系統(tǒng)的總體功能。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
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是德keysight N1169A-003 覆蓋擴(kuò)展技術(shù)
主要特性與技術(shù)指標(biāo)
- 符合 IEEE 1149.1 和1149.6 標(biāo)準(zhǔn)
- CET 卡：輸入電源 12Vdc
描述
覆蓋擴(kuò)展技術(shù)（CET）是 VTEP 和邊界掃描的混合技術(shù)。它結(jié)合了 VTEP 和邊界掃描的優(yōu)點(diǎn)，并增強(qiáng)了是德在線測(cè)試系統(tǒng)的總體功能。
它如何進(jìn)行工作？
- VTEP 傳感器位于被測(cè)元件（例如連接器）上，它能夠根據(jù)電容特性選取激勵(lì)信號(hào)。
- 傳統(tǒng)的 VTEP 方法需要有測(cè)點(diǎn)（例如通過(guò)探針）來(lái)提供激勵(lì)信號(hào)。而覆蓋擴(kuò)展技術(shù)則是依靠邊界掃描器件來(lái)提供激勵(lì)信號(hào)。
- 邊界掃描器件不需要每個(gè)引腳都放探針。
- 根據(jù) IEEE 1149.x 標(biāo)準(zhǔn)（只使用測(cè)試接入端口），用戶可以向連接器提供必要的激勵(lì)信號(hào)。
- 邊界掃描器件和 VTEP 傳感器之間的路徑缺陷（例如開(kāi)路）將影響傳送到傳感器的激勵(lì)信號(hào)。
- ICT 系統(tǒng)對(duì)結(jié)果進(jìn)行捕獲和診斷，因此會(huì)檢測(cè)到缺陷！
- 廣泛的測(cè)試范圍，不需要測(cè)點(diǎn)
- 可節(jié)省夾具和 ICT 測(cè)試資源，降低測(cè)試成本
- 通過(guò)降低應(yīng)力敏感型封裝（例如 BGA）上的應(yīng)力，提高電路板質(zhì)量
是德keysight N1169A-003 覆蓋擴(kuò)展技術(shù)