微納結(jié)構(gòu)三維形貌測量儀 參考價:面議
微納結(jié)構(gòu)三維形貌測量儀系列微納結(jié)構(gòu)三維形貌檢測儀,基于白光干涉掃描原理,以光波長作為測量基準(zhǔn),利用納米級高精度掃描系統(tǒng)結(jié)合具有自主知識產(chǎn)權(quán)的高精度解析算法,實現(xiàn)...薄膜測厚儀 參考價:面議
薄膜測厚儀采用光譜干涉原理進(jìn)行測量,具有非接觸、無破壞、快速等特點,可在真空環(huán)境使用;可與大行程工件臺配合,實現(xiàn)大面積膜厚自動測量。(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)