桌面型掃描電鏡 參考價(jià)：面議
桌面型掃描電鏡采用肖特基場發(fā)射電子源，三級獨(dú)立真空設(shè)計(jì)，優(yōu)于2.5nm的分辨率滿足多數(shù)樣品微納結(jié)構(gòu)表征需求。標(biāo)配大束流及大樣品倉，支持原位功能樣品臺及EDS/E...
臺式掃描電鏡能譜一體機(jī) 參考價(jià)：面議
ZEM系列電鏡能譜一體機(jī)兼顧樣品形貌表征及元素分析功能，體積小巧，操作簡便，安裝無需特殊環(huán)境，只需找一張桌子，供電即可工作。
超高真空微型光柵尺 參考價(jià)：面議
超高真空微型光柵尺SMG26特點(diǎn)，體積小，結(jié)構(gòu)緊湊，適用于超高真空使用，良好的耐高溫性，最高可達(dá)100℃，SMG26系列光柵的柵距為256μm，下表為不同細(xì)分倍...
納米壓電旋轉(zhuǎn)位移臺 參考價(jià)：面議
澤攸科技位移臺作為國產(chǎn)精密儀器的代表，依托壓電陶瓷驅(qū)動技術(shù)實(shí)現(xiàn)了亞納米級運(yùn)動精度與宏觀行程的突破性結(jié)合，解決了傳統(tǒng)設(shè)備在分辨率和行程范圍上的技術(shù)瓶頸。其核心設(shè)計(jì)...
納米壓電旋轉(zhuǎn)位移臺 參考價(jià)：面議
澤攸科技位移臺作為國產(chǎn)精密儀器的代表，依托壓電陶瓷驅(qū)動技術(shù)實(shí)現(xiàn)了亞納米級運(yùn)動精度與宏觀行程的突破性結(jié)合，解決了傳統(tǒng)設(shè)備在分辨率和行程范圍上的技術(shù)瓶頸。其核心設(shè)計(jì)...
納米壓電旋轉(zhuǎn)位移臺 參考價(jià)：面議
澤攸科技位移臺作為國產(chǎn)精密儀器的代表，依托壓電陶瓷驅(qū)動技術(shù)實(shí)現(xiàn)了亞納米級運(yùn)動精度與宏觀行程的突破性結(jié)合，解決了傳統(tǒng)設(shè)備在分辨率和行程范圍上的技術(shù)瓶頸。其核心設(shè)計(jì)...
SEM低溫/冷凍真空傳輸系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸科技的SEM低溫/冷凍真空傳輸系統(tǒng)是一款專為掃描電子顯微鏡（SEM）設(shè)計(jì)的先進(jìn)設(shè)備，旨在滿足在極低溫度條件下對樣品進(jìn)行觀察和分析的需求，同時(shí)確保樣品能夠保持...
SEM納米力測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto NI-100掃描電鏡納米力學(xué)樣品臺是澤攸科技推出的一款專注于材料變形行為和微觀失效機(jī)制研究的科研設(shè)備。該系統(tǒng)作為一款集成化的解決方案，能夠精...
臺式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該...
臺式掃碼電鏡 參考價(jià)：面議
澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該...
臺式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
ZEM20臺式掃描電鏡原位拉伸一體機(jī)由澤攸科技生產(chǎn)，具備高分辨率和多功能特性。其加速電壓范圍為3kV至20kV，可進(jìn)行1kV步進(jìn)調(diào)整，最高放大倍率為36萬倍，分...
二維材料轉(zhuǎn)移系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
二維材料轉(zhuǎn)移系統(tǒng)，可用于機(jī)械解理的各種二維材料的轉(zhuǎn)移及二維材料范德華異質(zhì)結(jié)的堆疊，尤其適用于二維材料的精準(zhǔn)轉(zhuǎn)角調(diào)控。樣品可以多方向多角度的相對移動，大氣環(huán)境下也...
全電動二維材料轉(zhuǎn)移臺 參考價(jià)：面議
全電動二維材料轉(zhuǎn)移臺2DTrans-ams-03，是專為解決手動轉(zhuǎn)移過程中由手的抖動帶來的這一不良結(jié)果，并充分還原手動轉(zhuǎn)移過程中的手感與操作方式，給予更好的準(zhǔn)確...
干式液氦溫區(qū)探針臺 參考價(jià)：面議
澤攸科技干式液氦溫區(qū)探針臺是一款專為樣品非破壞性檢測和真空潔凈環(huán)境設(shè)計(jì)的高精度測試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于直流（DC）、射頻（RF）、MEMS、納米電子、超導(dǎo)性、量子點(diǎn)...
低溫液氮探針臺 參考價(jià)：面議
低溫液氮探針臺是一種先進(jìn)的科研設(shè)備，專門用于在低溫環(huán)境下對半導(dǎo)體器件、微納材料以及電子元件進(jìn)行高精度的電學(xué)性能測試。它通過液氮制冷系統(tǒng)為樣品提供超低溫環(huán)境，確保...
手動臺階儀 參考價(jià)：面議
澤攸科技JS系列臺階儀作為國產(chǎn)高精度表面測量設(shè)備的代表，憑借其創(chuàng)新的技術(shù)架構(gòu)、靈活的應(yīng)用場景及可靠的測量性能，在半導(dǎo)體制造、材料科學(xué)、微納技術(shù)等領(lǐng)域展現(xiàn)了顯著優(yōu)...
全自動臺階儀 參考價(jià)：面議
澤攸科技JS系列臺階儀作為國產(chǎn)高精度表面測量設(shè)備的代表，憑借其創(chuàng)新的技術(shù)架構(gòu)、靈活的應(yīng)用場景及可靠的測量性能，在半導(dǎo)體制造、材料科學(xué)、微納技術(shù)等領(lǐng)域展現(xiàn)了顯著優(yōu)...
半自動臺階儀 參考價(jià)：面議
澤攸科技JS系列臺階儀作為國產(chǎn)高精度表面測量設(shè)備的代表，憑借其創(chuàng)新的技術(shù)架構(gòu)、靈活的應(yīng)用場景及可靠的測量性能，在半導(dǎo)體制造、材料科學(xué)、微納技術(shù)等領(lǐng)域展現(xiàn)了顯著優(yōu)...
臺式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該...
臺式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
澤攸科技ZEM系列臺式掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其超高的便捷性、創(chuàng)新的技術(shù)設(shè)計(jì)、高分辨率成像能力及多樣化的功能拓展，已成為科研與工業(yè)領(lǐng)域微觀分析的重要工具。該...
PicoFemto掃描電鏡原位拉伸臺 參考價(jià)：面議
PicoFemto掃描電鏡原位拉伸臺集成了力學(xué)拉伸模塊以及高溫環(huán)境模塊，可以實(shí)現(xiàn)在掃描電鏡中對樣品原位加熱的同時(shí)進(jìn)行拉伸實(shí)驗(yàn)。本產(chǎn)品采用新一代的高溫拉伸方案，加...
原位MEMS 氣體/液體樣品桿系列 參考價(jià)：面議
澤攸科技原位MEMS氣體/液體樣品桿系列是一種基于MEMS芯片技術(shù)的創(chuàng)新型透射電鏡（TEM）樣品桿，專為在氣體或液體環(huán)境中進(jìn)行原位測量而設(shè)計(jì)。該系列產(chǎn)品通過在標(biāo)...
冷凍樣品臺 參考價(jià)：面議
PicoFemto系列掃描電子顯微鏡冷凍樣品臺基于液氮低溫制冷技術(shù)，溫度范圍：-160℃至80℃。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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