目錄:安徽澤攸科技有限公司>>掃描電鏡原位樣品臺>>電學(xué)探針臺>> NP-3納米探針臺
| 功能 | 電性測量、納米操縱 |
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SEM納米探針臺
產(chǎn)品介紹
三軸探針臺由三個單軸運動臺組合而成。一個SEM腔體內(nèi)可安裝多個三軸探針臺。平臺上可安裝電學(xué)探針、光纖探針、納米鑷子、金剛石納米力壓頭、顯微注射器等各類操縱和測量頭，實現(xiàn)微納操縱和測量的目的。
標準配置包含：探針主體、適配SEM/FIB的底座、過真空法蘭、探針控制器及控制手柄
選配：低溫、高溫樣品臺、光纖夾頭和光纖真空饋通、EBIC套件
產(chǎn)品特點
▲ 結(jié)構(gòu)緊湊，高剛性
▲ 零間隙，高精度柔性鉸鏈導(dǎo)向系統(tǒng)
▲ 壓電陶瓷位移平臺具有超長使用壽命
▲ 內(nèi)部根據(jù)需求可增加位置反饋
▲ 應(yīng)用：納米材料操縱、納米器件電學(xué)光電等物性測量、生物細胞DNA操作等
▲ 適配SEM：日本電子、 日立、FEI、 TESCAN等
應(yīng)用領(lǐng)域
規(guī)格參數(shù)
樣品臺面平面度：10μm
探針臺總重量：225g
三軸XYZ行程：±10mm
最大運動速度：3mm/s
細調(diào)分辨率：0.5nm
案例應(yīng)用
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化工儀器網(wǎng)