X200M高低溫手動屏蔽探針臺擁有穩(wěn)定可靠的測試平臺，保證測試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)異的光學系統(tǒng)結(jié)合分辨率＜2μm的針座系統(tǒng)，確保扎針的穩(wěn)定性。直流應用中，X200M高品質(zhì)的電纜和三軸信號通路，可使DUT特性分析達到fA水平；射頻應用中，通過縮短擴頻模塊與探針之間連接器的距離，可高效且更好地實現(xiàn)THz內(nèi)器件高品質(zhì)參數(shù)的提取。優(yōu)異的三軸低漏電載物臺選件，提高器件測試的信心。載物臺的單手快速移動及升降、一體化真空開關等優(yōu)化設計使操作流程更加簡潔與人性化，無論是初學者還是經(jīng)驗者，使用起來都非常方便、易懂。

專門為升級和擴展所設計的各種選項， 可輕松實現(xiàn)如負載牽引系統(tǒng)、太赫茲系統(tǒng)、 輻照系統(tǒng)、1/f噪聲等系統(tǒng)的搭載，X200M 系統(tǒng)也可根據(jù)您的未來項目需求重新配置。

高低溫手動屏蔽探針臺產(chǎn)品特點

?機臺可輕松實現(xiàn) - 60~200/300°C 高低溫測試。

?提供芯片級I-V / C-V低噪聲全 金屬屏蔽測試系統(tǒng)方案。

?可輕松實現(xiàn)太赫茲及擴頻模塊的 升級搭載。

?多孔吸附式載物臺設計，更好地 兼容薄晶圓固定。

?優(yōu)異的屏蔽系統(tǒng)可搭載高低溫， 為芯片提供更加成熟穩(wěn)定的老化 測試環(huán)境。

?短軸式拉桿設計，將更加符合新 一代芯片系統(tǒng)測試的需求。

?多種可選CHUCK類型，滿足常 規(guī)及高壓等特殊條件的測試。