手動簡易探針臺可吸附多種規(guī)格芯片與器件，并提供多個可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成對半導體器件的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。主要通過連接儀器及待測物實現(xiàn)器件的參數(shù)提取，通過自帶的驅(qū)動及測試軟件能夠獨立實現(xiàn)器件的電學特性測試，為精密器件提供一個良好的系統(tǒng)平臺。手動簡易探針臺可以搭配多種測試儀器使用，比如示波器，頻譜儀，IV等等。

通過探針接觸的方法給器件施加光電信號來測量半導體器件伏安特性（即電壓-電流特性）的儀器，在測量及選用半導體器件時有著廣泛的用途。

特點

-可選配高溫測試環(huán)境

-可選直筒顯微鏡和體式顯微鏡

-載物臺可Z軸升降

-載物臺Theta可粗調(diào)360°，微調(diào)±7°

-載物臺XY移動分辨率為1um。

-可選配高壓高流測試環(huán)境

-快速裝片并可任意位置鎖定功能

-顯微鏡支架萬向桿

可選配件

-射頻測試探頭及電纜

-低漏電電流/電容測試

-激光修復

-探針卡/封裝/PCB 板夾具

-有源探頭

-高壓高流模塊

-高清數(shù)字相機

-Hot Chuck

-載物臺水平調(diào)節(jié)機構

兼容儀器

-各種型號示波器

-各品牌半導體參數(shù)分析儀，博測，是德，泰克，概倫等

-各種品牌的網(wǎng)絡分析儀，是德，羅德施瓦茨， 思儀等

-各種品牌型號的源表

也可使用自己搭建的半導體參數(shù)分析儀。

應用領域

-Failure analysis 集成電路失效分析

-Wafer level reliability 晶元可靠性認證

-Device characterization 元器件特性量測

-Process modeling 塑性過程測試(材料特性分析)

-IC Process monitoring 制成監(jiān)控

-Package part probing IC封裝階段打線品質(zhì)測試

-ESD&TDR testing ESD和TDR測試

-Microwave probing 微波量測(高頻測試)

-Solar太陽能領域檢測分析

-LED、OLED、LCD領域檢測分析

-PCB領域檢測分析

-VESEL DFB,COC,硅光等光電器件測試

可根據(jù)具體需求定制，大部分需求都可滿足，歡迎聯(lián)系！