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可控高溫原位X射線測試臺是一種集成了高溫控制與X射線衍射分析功能的科研設(shè)備。適用于晶體材料物相定性和定量分析、衍射譜的指標(biāo)化和點陣參數(shù)的測定、晶粒尺寸及點陣畸變...
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