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藤田(重慶)精密儀器設(shè)備有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第1年

15803007556

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日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 SF-3

參   考   價(jià): 2000

訂  貨  量: ≥1 件

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品       牌OTSUKA/日本大塚

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所  在  地重慶市

更新時(shí)間:2025-04-10 10:08:02瀏覽次數(shù):80次

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產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 綜合
日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 SF-3
可攜帶至現(xiàn)場的手持式 可測量0.1μm單位
具有形狀的樣品也可非破壞的測量

可攜帶至現(xiàn)場的手持式

日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 SF-3
● 可測量0.1μm單位

● 具有形狀的樣品也可非破壞的測量

● 不論基材材質(zhì)、可測量其鍍膜

日本Otsuka大塚薄膜厚度檢測儀 SF-3
與桌上型光學(xué)膜厚儀相比,Smart膜厚儀在“現(xiàn)場"以非破壞式直接量測樣品,且可以量測特殊形狀樣品。
與接觸式膜厚儀相比,Smart膜厚儀不僅不會(huì)破壞您的樣品,也不會(huì)因用戶不同而產(chǎn)生誤差且遠(yuǎn)高于接觸式膜厚的量測精度。
與渦電流/電磁式膜厚儀相比,Smart膜厚儀不需要制作檢量線,且可以量測非金屬基材并且得到絕對(duì)值!

非接觸式載臺(tái)

對(duì)于濕膜或半導(dǎo)體晶圓等不想接觸的樣品,可以通過自由設(shè)定探頭位置進(jìn)行非接觸測量。

產(chǎn)品開發(fā)-量測試作品

1.攜帶到合作廠商等,直接在現(xiàn)場量測效率Up

2.試作階段的檢查方法商定效率Up



規(guī)格樣式

量測原理

反射分光法(光干涉法)、非破壞性量測

膜厚量測范圍

1~50μm(顯示上限60μm)

重復(fù)精度

2.1σ 0.01μm(SiO2膜1μm)

量測時(shí)間

1秒內(nèi)

量測層數(shù)

1層

數(shù)據(jù)輸出

附屬操作屏幕顯示或以USB輸出Excel檔案

量測Spot

Φ1mm以下

重量

約1.1kg


選配

筆型探頭

能夠測量狹窄區(qū)域或形狀的樣品。 探頭端Φ6mm。



膜厚測量范圍

1μm~50μm

測量重復(fù)性

0.01μm

測量時(shí)間

1秒以下





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