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詳細摘要：. . . .ZetaPALS是目前*能夠精確測量低電泳遷移率體系的Zeta電位分析儀器，它采用的是真正的硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術，比其它測量Zeta電位的技術靈敏度高1000倍！

詳細摘要：. . . .ZetaPlus是簡單、方便而且準確的電泳遷移率測量儀器，其*的開放式樣品槽設計與頻譜漂移分析技術相結合，使其具有*的分辨率，足以分辨等電點附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測量儀器中固有的電滲誤差的影響，從而使

詳細摘要：BI-2010粘度檢測器采用全新專利技術的毛細管全橋式設計，具有高靈敏、低展寬、低噪音和節(jié)約測量時間等特點，其溫控可從室溫達到80℃。利用BI-2010可得到特征粘度，對樣品進行同樣校正，從而得到真實分子量和結構信息。特征粘度的檢測結合Mark－Houwink曲線，

詳細摘要：Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀*結合了背向光散射技術與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術，擁有15°、90°與173°三個散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術*

詳細摘要：Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀*結合了背向光散射技術與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技術，擁有15°、90°與173°三個散射角度，突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測量的局限性，硬件PALS技術*

詳細摘要：廣角度動/靜態(tài)激光散射儀采用TurboCorr數(shù)字相關器，通過動態(tài)光散射的方法可以測量小至1nm的納米顆粒分布情況，通過靜態(tài)光散射的方法可測量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲線、分子量、均方根回旋半徑及第二維里系數(shù)。經(jīng)國內外眾多*實驗室使用，證明BI-200SM

詳細摘要：它不僅適用于水相體系，還適用于溶劑、高鹽濃度、油相及等電點附近測量等特殊體系。