光電測試探針臺,晶圓光電流測試 參考價：面議
這款光電測試探針臺是專業(yè)為8英寸和12英寸晶圓光電流測試設(shè)計的專業(yè)半自動變溫光電探針臺,可滿足8英寸和12英寸晶圓變溫光電測試需要,測試溫度范圍-60~350℃...
進口晶圓測試探針臺 參考價：面議
這款手動晶圓測試探針臺是專業(yè)為晶圓測試設(shè)計的專業(yè)手動探針臺,可滿足6英寸,8英寸和12英寸晶圓測試需要,測試溫度范圍室溫~350℃,特別適合高溫和低溫環(huán)境下晶圓...
四點探針系統(tǒng) 參考價：面議
這款四點探針系統(tǒng)用于快速測量材料的片電阻、電阻率和電導(dǎo)率。系統(tǒng)包括一個四點探針、源測量單元和易于使用的PC軟件。不適用于測量形成天然絕緣氧化物（如硅）的材料的性...
微探針系統(tǒng) 參考價：面議
這款微探針系統(tǒng)micro probe是為材料光學(xué)特性和電特性測試設(shè)計的納米級微納探針儀器,可以結(jié)合顯微鏡,光譜儀等儀器在各種環(huán)境條件下現(xiàn)場測試材料電學(xué)和光學(xué)特性...
納米操縱系統(tǒng) 參考價：面議
納米操縱系統(tǒng)采用納米探針模塊nanoprober為顯微鏡或電鏡下微納操作提供納米級微操縱方案,非常適合SEM和各種電鏡樣品微操作使用
范德瓦爾斯轉(zhuǎn)移臺 參考價：面議
范德瓦爾斯轉(zhuǎn)移臺VAN DER WAALS是為半導(dǎo)體芯片不同材料在位置的堆積過程研究設(shè)計的范德瓦爾斯位移臺。
高壓探針臂,高壓電流探針測試,probe arm 參考價：面議
這款高壓探針臂 probe arm也是大電流探針臂,可加持各種探針,滿足20KV和200A的高壓電流探針測試。
三軸探針臂,同軸探zhen臂,probe arm 參考價：面議
三軸探針臂,同軸探針臂是為探針測量專用三軸探針夾具,Triaxial probe arm.(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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