混凝土掃描儀 參考價：面議
這款混凝土掃描儀是專業(yè)為鋼筋混凝土掃描設(shè)計混凝土鋼筋掃描儀,能夠掃描處混凝土內(nèi)的鋼筋,管線和空隙,查找鋼筋和管道走向,避免施工切割到鋼筋和管線。
激光多普勒測振儀 參考價：面議
激光多普勒測振儀是為非接觸式振動測量設(shè)計的激光測振儀器,可非接觸式測量任何表面的振動,采用激光束準(zhǔn)直對準(zhǔn)待測振動平面,遠測量距離高達5米,不需要任何光學(xué)和機械調(diào)...
高分辨率掃描電子顯微鏡 參考價：面議
高分辨率掃描電子顯微鏡SEM-200具有3nm分辨率能力和競爭力的掃描電鏡價格,廣泛用于科研單位使用。
晶圓芯片裝卸操作臺 參考價：面議
晶圓裝卸操作臺是專業(yè)為4英寸晶圓裝卸,晶圓搬運,晶圓取放等晶圓操作操縱設(shè)計的晶圓裝卸定位臺系統(tǒng)。它采用XYZ三維定位臺和360度旋轉(zhuǎn)臺集成而成。
光纖連接器端面測試干涉儀 參考價：面議
光纖連接器端面測試干涉儀FiBO®200是經(jīng)濟型的光纖接頭端面分析測量儀器。具有光纖接頭高分辨率3D表面計量和自動缺陷檢測功能。可在生產(chǎn)現(xiàn)場或現(xiàn)場快速...
光纖連接器端面檢測儀,光纖接頭端面干涉儀 參考價：面議
光纖連接器端面檢測儀FiBO®250是光纖接頭端面干涉儀是對,可提供高分辨率3D表面計量和自動缺陷檢測結(jié)合。
光纖端面幾何測量儀,相移干涉儀 參考價：面議
光纖端面幾何測量儀FiBO®300是一種多功能phase-shifting相移干涉儀，用于對裸光纖和非標(biāo)準(zhǔn)光纖連接器的光纖端面幾何結(jié)構(gòu)測量分析。可變光...
光纖色散測試儀 參考價：面議
光纖色散測試儀CD500是為光纖色散測量設(shè)計的色散測量系統(tǒng),具有測量PMD單模光纖中偏振色散功能,非常適光纖和光纜生產(chǎn)檢測。
光纖光譜衰減測量儀 參考價：面議
光纖光譜衰減測量儀SA500HD是為光纖衰減測量設(shè)計的光纖衰減測試儀器,利用DSP和固態(tài)單色儀技術(shù)測量光纖光譜損耗對波長的變化。高動態(tài)范圍允許測試現(xiàn)在在中發(fā)現(xiàn)的...
模場直徑有效面積測量系統(tǒng) 參考價：面議
模場直徑有效面積測量系統(tǒng)是pe.fiberoptics公司光纖模場直徑測試和光纖有效面積分析測量設(shè)計的MFD和Aeff測試儀器。
可調(diào)光纖法布里-珀羅濾波器 參考價：面議
可調(diào)光纖法布里-珀羅濾波器Fiber Fabry-Perot (FFP) Tunable Filter采用堅固外殼封裝和全光纖制造,具有較低損耗,無準(zhǔn)直光學(xué)元件...
KPFM-SKPM開爾文探針力顯微鏡 參考價：面議
這款KPFM開爾文探針力顯微鏡,SKPM掃描開爾文探針力顯微鏡(Kelvin Probe Force Microscopy)可以訪問從50mm到350mm的樣品...
單點開爾文探針系統(tǒng) 參考價：面議
我們的單點開爾文探針系統(tǒng)采用非零信號檢測方法對材料的功函數(shù)/費米能級進行非常高質(zhì)量的測量。
超高真空開爾文探針系統(tǒng) 參考價：面議
超高真空開爾文探針系統(tǒng)幫助用戶充分利用真空下的工作功能和接觸電位差（CPD）測量。每個系統(tǒng)都配有高質(zhì)量的手動或電動轉(zhuǎn)換器，可實現(xiàn)可靠和準(zhǔn)確的針尖到樣品定位，跟蹤...
開爾文探針系統(tǒng),Kelvin Probe 參考價：面議
開爾文探針系統(tǒng)Kelvin Probe可用于光電化學(xué)中,精確測量不同半導(dǎo)體和導(dǎo)電材料的功函數(shù)，精度高。表面態(tài)在樣品的電荷轉(zhuǎn)移和功函數(shù)變化中起著重要作用。
超高真空超低溫四探針SPM顯微鏡 參考價：面議
這超高真空超低溫四探針SPM是超高真空室內(nèi)應(yīng)用設(shè)計的UHV極低溫多探針掃描探針顯微鏡，得益于多探針SPM優(yōu)異性能,這款產(chǎn)品可用于納米技術(shù)
高壓濺射PVD物理氣相沉積系統(tǒng) 參考價：550000
高壓PVD系統(tǒng)配置適合在晶圓濺射金屬膜,磁性材料,多組分氧化物,得益于它靈活的配置和特殊的晶圓加熱器設(shè)計,PVD可以在溫度最高900℃的襯底上濺射金屬膜層和磁性...
電子束蒸發(fā)鍍膜系統(tǒng) 參考價：1200000
電子束蒸發(fā)系統(tǒng)是按照“從實驗室到工廠"的方法設(shè)計的電子束鍍膜蒸發(fā)系統(tǒng),既適用于密集的研發(fā)活動，也適用于中試生產(chǎn)。
晶圓電阻率測試儀Sheet Resistance 參考價：面議
晶圓電阻率測試儀Sheet Resistance采用非接觸方式測量晶圓電阻率,測量P/N類型和晶圓厚度,適合硅材料和其它材料的Sheet Resistance測...
四探針電阻率電導(dǎo)率計 參考價：面議
這款四探針電阻率電導(dǎo)率計可快速測量材料的薄層電阻,方塊電阻,sheet resistance電阻率和電導(dǎo)率,適合多種材料和樣品測量。
自動四探針電阻率mapping測試系統(tǒng) 參考價：面議
自動四探針電阻率mapping測試系統(tǒng)是為晶圓電阻率繪圖mapping設(shè)計的工業(yè)級自動四點探針電阻率測試系統(tǒng)。采用成熟的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，提供快速、準(zhǔn)確和可靠的晶圓樣品...
晶圓厚度變化測量儀 參考價：面議
高分辨率晶圓厚度和厚度變化測量儀MX10x系列是德國測量硅片厚度和TTV厚度變化的儀器。它的分辨率高達10nm，可以在幾秒鐘內(nèi)適應(yīng)不同的厚度范圍。
硅片TTV厚度測量儀 參考價：面議
該硅片TTV厚度測試儀是采用紅外干涉技術(shù)的硅片厚度測量儀，能夠精確測量硅片厚度和測量TTV總厚度變化，也能實時測量超薄晶圓厚度（掩膜過程中的晶圓），硅片厚度測試...
硅片TTV厚度測試儀,測量硅片厚度 參考價：面議
該硅片TTV厚度測試儀是采用紅外干涉技術(shù)的硅片厚度測量儀，能夠精確測量硅片厚度和測量TTV總厚度變化，也能實時測量超薄晶圓厚度（掩膜過程中的晶圓），硅片厚度測試...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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