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表面粗糙度測量儀可高精度測試分析各種表面,可用作臺(tái)階儀,納米表面形貌儀器。
表面粗糙度測量儀TOOLinspect測量系統(tǒng)是用于測量功能表面的工業(yè)解決方案。獲得**的共焦顯微鏡和焦點(diǎn)變化的結(jié)合，使得在3D中測量和分析各種各樣的表面成為可能。共焦測量技術(shù)支持標(biāo)準(zhǔn)可追蹤表面測量，測量范圍可達(dá)一位數(shù)納米。焦點(diǎn)變化也可以測量陡峭側(cè)面（例如刀具）上的幾何圖形。
復(fù)雜的測量任務(wù)被編程為自動(dòng)直觀的“示教"測量計(jì)劃。因此，即使沒有編程技能的用戶也可以可靠地執(zhí)行新任務(wù)，并以協(xié)議格式獲得測量結(jié)果。這些顯示為目標(biāo)/實(shí)際比較，偏差以簡單的紅綠燈顏色突出顯示。
表面粗糙度測量儀TOOLinspect測量系統(tǒng)有不同的設(shè)備尺寸，因此可以適應(yīng)各種測量任務(wù)。300 mm長和330 mm高的零件安裝在堅(jiān)固且減振的機(jī)架上。

表面粗糙度測量儀測量功能：
基于DIN EN ISO 4287/4288和13565的粗糙度測量輪廓，以及基于DIN ISO EN 25178的面積
形狀和輪廓：角度、高度、寬度、半徑、目標(biāo)/實(shí)際比較等。
符合DIN EN ISO 25178的功能容積參數(shù)（如Vmp、Vmc、Vvc、Vvv參數(shù)）
刃口測量：刃口質(zhì)量、刃口圓角半徑、形狀、K系數(shù)、高度缺陷
刀具磨損
臺(tái)階高度–即使是透明層
紋理方向/各向同性，主要波紋度
表面粗糙度測量儀亮點(diǎn)
高精度測量，精確到一位數(shù)納米范圍
反射、透明和漫反射表面的測量
聯(lián)合測量方法：共焦測量技術(shù)和焦距變化
通過縫合測量的大測量場
與激光掃描顯微鏡相比，由于技術(shù)上可忽略的相干性和散斑效應(yīng)，無偽影測量
wan全透明的數(shù)據(jù)——可以查看每個(gè)測量點(diǎn)的原始數(shù)據(jù)
粗糙度可根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)測量機(jī)構(gòu)KA3/可驗(yàn)證的粗糙度測量（例如，可根據(jù)可驗(yàn)證的粗糙度測量機(jī)構(gòu)KNT/可驗(yàn)證的粗糙度測量機(jī)構(gòu)）確定
用戶友*、直觀、可擴(kuò)展的測量軟件
簡單處理：3次點(diǎn)擊測量，1次點(diǎn)擊評(píng)估
測量時(shí)間短：可采用與輪廓設(shè)備類似的方式記錄輪廓（根據(jù)DIN EN ISO 3274）。
通過快速區(qū)域掃描對表面特征進(jìn)行二維和三維表征
表面粗糙度測量儀特點(diǎn)
垂直分辨率高達(dá)一位數(shù)納米級(jí)
三維高精度表面測量結(jié)果
可追溯至標(biāo)準(zhǔn)的粗糙度測量
聯(lián)合測量方法：共焦測量技術(shù)和焦距變化
高度自動(dòng)化
表面粗糙度測量儀**光學(xué)測量方法的*點(diǎn)是，可以生成真實(shí)的3D數(shù)據(jù)，從而在較大的圖像截面上評(píng)估表面結(jié)構(gòu)。加工結(jié)構(gòu)、漏鋼、生長層缺陷累積和許多其他細(xì)節(jié)通過平面參數(shù)進(jìn)行評(píng)估，其中TOOLinspect的強(qiáng)度尤其適用于高反射和非常光滑的表面以及透明層。差分信號(hào)評(píng)估允許在光學(xué)透明層的邊界處獲得和評(píng)估信息，這不僅允許測量臺(tái)階高度或?qū)雍穸龋€允許檢測表面缺陷，例如制造過程中的劃痕或其他缺陷。例如，刀具制造商不僅可以檢查銑刀、絲錐或可轉(zhuǎn)位刀片的形狀特征，如切削刃半徑和角度，還可以測量可追溯至標(biāo)準(zhǔn)的粗糙度。陡坡側(cè)面和角度的測量使用聚焦變化進(jìn)行，這是集成在設(shè)備中的第二種測量方法。TOOLinspect測量系統(tǒng)結(jié)合了制造商的專有測量軟件和市場成熟的評(píng)估軟件MountainsMap®，用戶友*且靈活。Confovis測量軟件創(chuàng)建了一個(gè)3D點(diǎn)云，既有焦點(diǎn)變化，也有共焦測量點(diǎn)，它專門顯示記錄的測量點(diǎn)。不需要軟件來填寫數(shù)據(jù)點(diǎn)或過濾數(shù)據(jù)。因此，用戶可以在坐標(biāo)系中真實(shí)地獲得測量值。