脈沖激光沉積鍍膜設(shè)備 參考價：面議
脈沖激光沉積鍍膜設(shè)備激光在真空腔內(nèi)照射到成膜靶上，靶被照射后吸收高密度能量而形成的plume狀等離子體狀態(tài)，然后被堆積到設(shè)在對面的基板上而成膜。PLD方法可以獲...
狹縫擠出式涂布鍍膜機(jī) 參考價：面議
狹縫擠出式涂布鍍膜機(jī)粘度范圍：1-20000cps，應(yīng)用襯底：玻璃， PET聚酯， 紙張，幅寬：90mm, 120mm, 300mm。
低溫等離子體源 參考價：面議
低溫等離子體源通過外部開關(guān)信號發(fā)射，直接放電，低輸入電壓、高輸出電壓，基于壓電變壓器直接放電，同時在元件的輸出端直接產(chǎn)生冷等離子，等離子通過電離空氣或氣體來形成...
快速動力學(xué)停流裝置-分子生物學(xué) 參考價：面議
快速動力學(xué)停流裝置-分子生物學(xué)配合進(jìn)行快速動力學(xué)瞬間實時記錄，或離線分析，為廣大的快速動力學(xué)研究學(xué)者提供了強(qiáng)有力的工具。在消耗較少的樣本和較少的時間的同時，為您...
表面光電壓譜--半導(dǎo)體表征 參考價：面議
表面光電壓譜--半導(dǎo)體表征表面光電壓譜進(jìn)行專業(yè)研究時，SPV010或者SPV020表面光電壓譜系統(tǒng)作為開爾文探針系統(tǒng)的升級配件，匹配共同工作。150瓦直流可控光...
英國KP開爾文探針掃描-半導(dǎo)體表征 參考價：面議
英國KP開爾文探針掃描-半導(dǎo)體表征英國KP開爾文探針掃描是一種非接觸無損震蕩電容裝置，用于測量導(dǎo)體材料的功函數(shù)（Work Function）或半導(dǎo)體、絕緣表面的...
球磨測厚儀-測試設(shè)備 參考價：面議
球磨測厚儀-測試設(shè)備控制單元自帶可編程的微處理器:速度，時間，球型，X，Y直徑，自帶LED光源，目鏡小刻度為0.02mm，自動厚度校準(zhǔn)，工作時間范圍：1-30m...
涂層附著力檢測儀-測試設(shè)備 參考價：面議
涂層附著力檢測儀-測試設(shè)備1.快速簡易：壓痕并觀察壓痕效果2.高性價比：寶石探針消耗低（劃痕儀的10倍使用壽命）
摩擦學(xué)測試設(shè)備 參考價：面議
摩擦學(xué)測試設(shè)備目的是滿足摩擦學(xué)的需要。為了增加機(jī)械部件的性能和可靠性，公司和大學(xué)研究越來越多的涂層和基底材料的摩擦參數(shù)和磨耗阻力。針對客戶的需求，我們開發(fā)了多種...
輪廓儀-測試設(shè)備 參考價：面議
輪廓儀-測試設(shè)備為了選擇佳涂層或基底材料，客戶有必要不僅僅檢測摩擦系數(shù)，也需要檢測磨損速率。磨損速率測量可以提供可靠的結(jié)果，這可以允許客戶來決定手否樣品能夠達(dá)到...
界面力學(xué)分析儀-材料表征 參考價：面議
界面力學(xué)分析儀-材料表征界面力學(xué)分析儀可以用來直接測量表面（諸如：無機(jī)物，金屬，氧化物，聚合物，玻璃，生物分子界面等）間靜態(tài)力和動態(tài)力，并在分子級領(lǐng)域內(nèi)研究界面...
飛行時間二次離子質(zhì)譜-材料表征 參考價：面議
飛行時間二次離子質(zhì)譜-材料表征飛行時間二次離子質(zhì)譜是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)?？梢詮V泛應(yīng)用于物理，化學(xué)，微電子，生物，制藥，空間分析等工業(yè)和研究方面。TOF-...
全自動貼片機(jī)-材料設(shè)備 參考價：面議
全自動貼片機(jī)-材料設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)放大是持續(xù)可調(diào)的。這通過可調(diào)放大倍率達(dá)到高精度的放置器件。該款是一款堅固并且可靠的機(jī)械設(shè)計，操作簡易，兼容性高的產(chǎn)品。
劃片機(jī)-材料設(shè)備 參考價：面議
劃片機(jī)-材料設(shè)備沿著中心線升高以便分離。薄膜層幫助元件阻攔污染或重壓。全部參數(shù)都由控制鍵盤設(shè)定。這是一款穩(wěn)定，抗振動，和易操作的設(shè)備。
大氣環(huán)境光電子發(fā)射光譜-材料表征 參考價：面議
大氣環(huán)境光電子發(fā)射光譜-材料表征1、大氣環(huán)境下使用2、功能：光電子發(fā)射光譜+開爾文探針3、測試能級：費米能級，導(dǎo)帶底能量，價帶頂能量，HOMO-LUMO，禁帶寬...
薄膜電阻及厚度測試設(shè)備 參考價：面議
薄膜電阻及厚度測試設(shè)備可按照需求配置單個或多個針對不同樣品的高敏感探頭進(jìn)行測量，并通過顯示模塊輸出。檢測終輸出結(jié)果可顯示為薄膜電阻（Ohms/sq），薄膜電導(dǎo)（...
俄歇電子能譜及電子衍射分析系統(tǒng)-材料表征 參考價：面議
俄歇電子能譜及電子衍射分析系統(tǒng)-材料表征俄歇電子能譜及低能電子衍射分析系統(tǒng)電子槍：型號 ：帶可調(diào)焦距和束斑直徑的雙靜電透鏡束流電壓：0-3KV束流電流：大50u...
表面光電壓譜系統(tǒng)-材料表征 參考價：面議
表面光電壓譜系統(tǒng)-材料表征表面光電壓譜系統(tǒng)150瓦直流可控光強(qiáng)的石英鹵素?zé)艨梢赃_(dá)到開路電位來評估卷對卷硅太陽能電池的質(zhì)量，全數(shù)字化控制所有參數(shù)，包括光照強(qiáng)度和波...
KP Technology掃描開爾文探針-材料表征 參考價：面議
KP Technology掃描開爾文探針-材料表征非破壞性振動電容裝置,用于測試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢，表面功函。由材料表面頂部的1-3層原子...
超高真空開爾文探針-材料表征 參考價：面議
超高真空開爾文探針-材料表征開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢，
氣氛可控開爾文探針-材料表征 參考價：面議
氣氛可控開爾文探針-材料表征氣氛可控開爾文探針RHC020 氣氛控制掃描開爾文探針是控制氣氛檢測樣品的理想解決方案，50x50mm樣品加熱器可將樣品溫度升至10...
深能級瞬態(tài)譜儀-半導(dǎo)體表征 參考價：面議
深能級瞬態(tài)譜儀-半導(dǎo)體表征半導(dǎo)體領(lǐng)域研究和檢測半導(dǎo)體雜質(zhì)、缺陷深能級、界面態(tài)等的重要技術(shù)手段。根據(jù)半導(dǎo)體P-N 結(jié)、金－半接觸結(jié)構(gòu)肖特基結(jié)的瞬態(tài)電容（△C～t）...
單點開爾文探針-材料表征 參考價：面議
單點開爾文探針-材料表征開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界高分辨率的測試系統(tǒng)。
激光直寫無掩膜光刻機(jī) 參考價：面議
激光直寫無掩膜光刻機(jī)紫外光直寫曝光 ，無需掩模，大幅節(jié)約了掩模加工費用，靈活性高，可直接通過電腦設(shè)計光刻圖形，并可根據(jù)設(shè)計要求隨意調(diào)整，可升級開放性系統(tǒng)設(shè)計，按...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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