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Jordan Valley公司新設(shè)計的Delta-X是多功能的X射線衍射設(shè)備，可靈活應(yīng)用于材料科學(xué)研究、工藝開發(fā)、與生產(chǎn)質(zhì)量控制。Delta-X衍射儀的光源臺和...

InSight AFP是世上性能*高、行業(yè)首-選的先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)CMP輪廓和蝕刻深度計量系統(tǒng)。將其現(xiàn)代尖-端掃描儀與固有的穩(wěn)定電容式壓力計和精確的空氣軸承定位系統(tǒng)...

海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter納米壓痕儀是布魯克先進(jìn)的納米力學(xué)測試設(shè)備，同時具有高的性能、靈活性、可信度、實(shí)用性和速度。TI 980納米壓痕儀是...

InSight AFP是世上性能*高、行業(yè)首-選的先進(jìn)技術(shù)節(jié)點(diǎn)CMP輪廓和蝕刻深度計量系統(tǒng)。將其現(xiàn)代尖-端掃描儀與固有的穩(wěn)定電容式壓力計和精確的空氣軸承定位系統(tǒng)...

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探針式表面輪廓儀在嚴(yán)格的質(zhì)量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片及面...

Dektak XTL 嚴(yán)格的質(zhì)量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片...

Dektak XTL 嚴(yán)格的質(zhì)量保證與控制下獲得300mm性能檢測;可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片...

布魯克探針式表面輪廓儀（又稱“臺階儀"）歷今四十載，積累大量專有技術(shù)。從傳統(tǒng)的二維表面粗糙度和臺階高度測量，到更高級的三維表面成像和薄膜應(yīng)力測試，Dektak臺...

布魯克探針式表面輪廓儀（又稱“臺階儀"）歷今四十載，積累大量專有技術(shù)。從傳統(tǒng)的二維表面粗糙度和臺階高度測量，到更高級的三維表面成像和薄膜應(yīng)力測試，Dektak臺...

ContourGT-K 3D光學(xué)顯微鏡是表面輪廓儀功能和價值的標(biāo)準(zhǔn)。該系統(tǒng)具有各種2D / 3D測量，高分辨率成像和用戶友好的界面，該系統(tǒng)以緊湊的封裝和緊湊的占...

ContourX-500光學(xué)輪廓儀是用于快速，非接觸式3D表面度量的世界上全面的自動化臺式系統(tǒng)。該系統(tǒng)集成了布魯克專有的傾斜/傾斜光學(xué)頭，可以*編程，以在一定角...

ContourX-200光學(xué)輪廓儀將其特性，可自定義的選項以及易用性完美融合，可提供yi 流的快速，準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式3D表面度量。

ContourX-100光學(xué)輪廓儀以佳的價格為準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式表面計量樹立了新的*。小尺寸系統(tǒng)采用流線型封裝，可提供的2D / 3D高分辨率測量功能，

布魯克作為三維表面測量與觀察業(yè)界的ling dao者，提供從微觀如MEMS（微機(jī)電系統(tǒng)）到宏觀如發(fā)動機(jī)腔體等不同大小樣品的快說非接觸式分析。

Hys代ron® TS 77 Selec產(chǎn)自動臺式納米力學(xué)和納米摩擦測試系統(tǒng)提供了同級別儀器中高的測試性能，功能性和易用性?；Р剪斂酥腡ribo...

海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter納米壓痕儀是布魯克先進(jìn)的納米力學(xué)測試設(shè)備，同時具有高的性能、靈活性、可信度、實(shí)用性和速度。Bruker納米力學(xué)和納...

海思創(chuàng)TI 950 TriboIndenter納米壓痕儀是布魯克一臺用于多種納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)表征的自動化、高通量測試設(shè)備；納米力學(xué)測試設(shè)備 TI 950 T...

Bruker臺階儀Dektak XT也叫探針式表面輪廓儀（臺階儀）；實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性。實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測量，在微電子、半導(dǎo)體、...