Bruker公司的AFM具有多項(xiàng)zhuan li技術(shù)，以其的性能廣泛應(yīng)用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域

Dimension Edge原子力顯微鏡采用了布魯克的一些創(chuàng)新技術(shù)，達(dá)到了同類(lèi)產(chǎn)品的最高水平，為納米尺度的科學(xué)研究提供了高效率、高性?xún)r(jià)比的強(qiáng)大工具。

應(yīng)用：

應(yīng)用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測(cè)量，材料力學(xué)性能表征，MEMS制造，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質(zhì)研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結(jié)構(gòu)，光盤(pán)存儲(chǔ)，薄膜性能表征等領(lǐng)域的監(jiān)測(cè)等各類(lèi)科研和生產(chǎn)工作。

原理：

將一個(gè)對(duì)微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖*原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過(guò)在掃描時(shí)控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將對(duì)應(yīng)于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運(yùn)動(dòng)。利用光學(xué)檢測(cè)法或隧道電流檢測(cè)法，可測(cè)得微懸臂對(duì)應(yīng)于掃描各點(diǎn)的位置變化，從而可以獲得樣品表面形貌的信息。

原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來(lái)分類(lèi)的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contact mode) ，非接觸模式（ non - contact mode) 和敲擊模式( tapping mode）。

特征：

1. 低漂移和低噪音水平
2. 閉環(huán)設(shè)計(jì)--zhuan li的傳感器設(shè)計(jì)使Edge的閉環(huán)掃描的噪音水平達(dá)到了開(kāi)環(huán)掃描的水平
3. 開(kāi)放設(shè)計(jì)的樣品臺(tái)適用于各種實(shí)驗(yàn)和不同尺寸的樣品
4. 集成化的樣品臺(tái)既可以進(jìn)行直觀(guān)的移動(dòng)也具有很強(qiáng)的可編程功能控制
5. 集成可視反饋和預(yù)先配置的參數(shù)設(shè)定，使初學(xué)者也可以簡(jiǎn)單連續(xù)地得到專(zhuān)家級(jí)的數(shù)據(jù)