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詳細摘要： 二手電鏡sem+edx掃描電鏡分辨率：高真空二次電子像小于3.0nm（30KV） 掃描電鏡放大倍數(shù)：5×～1000000×，連續(xù)可調(diào) 能譜儀分辨率：MnKα峰的半高寬優(yōu)于127eV； 能譜儀元素測試范圍：Be4— Pu94

詳細摘要： 二手鎢燈絲電鏡二手SEM: 日本電子，日立，F(xiàn)EI，蔡司，基恩士，泰斯肯，以上品牌各一。歡迎咨詢鎢燈絲電鏡和場發(fā)射電鏡。

詳細摘要： 二手 JSM-IT300經(jīng)過改進照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號處理系統(tǒng)，不僅能觀察高質(zhì)量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。

詳細摘要： 二手FEI-QUANTA 250掃描電鏡掃描電鏡觀察樣品表面的形貌，分析系統(tǒng)用聚焦電子束在樣品表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子，背散射電子或吸收電子。電子槍發(fā)射出的電流激發(fā)到樣品表面產(chǎn)生二次電子，通過信號收集和信號轉(zhuǎn)換到達屏幕，可以看到樣品表面的同步掃描照片，實現(xiàn)對樣品表面的形貌的觀察。

詳細摘要： 二手日本電子（SEM）IT-300提供高畫質(zhì)圖像，能滿足您對 W-SEM 機型的期待，鏡筒設(shè)計和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有所提高

詳細摘要： 二手蔡司場發(fā)射電鏡SEM+EDX SUPRA25系列產(chǎn)品配備有經(jīng)過改進的第三代GEMINI®鏡筒、概念新穎的樣品臺、智能化硬件控制板和新型高效率的透鏡內(nèi)二次電子探測器。SUPRA™系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡是卡爾蔡司半導(dǎo)體事業(yè)部的納米技術(shù)系統(tǒng)部向市場推出的功能最多的場發(fā)射掃描電子顯微鏡。具有當前儀器所具有的所有特征：如在圖像質(zhì)量超高分辨率、工作電壓切換方便、出色的束流穩(wěn)定性、全分析型樣品室。

詳細摘要： 二手日立+日本電子掃描電鏡掃描電子顯微鏡SEM是一種電子顯微鏡，它通過用聚焦電子束掃描表面來產(chǎn)生樣品的圖像。電子與樣品中的原子相互作用，產(chǎn)生包含樣品表面形貌和成分信息的各種信號。電子束的掃描路徑形如光柵，將電子束的位置與檢測信號的強度相結(jié)合即可輸出圖像。在最常見的SEM模式下，探測器可以檢測到由電子束轟擊原子所激發(fā)的二次電子。不考慮其它因素，可以檢測到的二次電子數(shù)以及信號強度取決于樣品形貌。

詳細摘要： 二手SEM掃描電子顯微鏡SU3500所具備的新型的模擬圖像和改進后的電子光學系統(tǒng)以及圖像顯示算法使之能夠在低加速電壓下獲得更高的分辨率。3KV電壓時，SE圖像可達7nm,5KV電壓時，BSE圖像可達10nm。最新開發(fā)的自動多級電子槍偏壓機構(gòu)能夠在不降低電子束大小的情況下，在一定范圍內(nèi)的常用加速電壓下增加發(fā)射電流。因此，此款產(chǎn)品與S-3400N相比，噪音得以大幅減少，成像更加清晰。

詳細摘要： 二手日立電鏡SU-3500日立高新高畫質(zhì)的鎢燈絲掃描電鏡SU3500, 圖象質(zhì)量更進一步。通過高畫質(zhì)提升掃描電鏡的分析能力和操作性, 凝聚日立*進科技“。日立高新鎢燈絲掃描電鏡SU3500具有實現(xiàn)了3kV加速電壓7nm分辨率"的全新電子光學系統(tǒng), 可實現(xiàn)實時立體成像的“實時立體觀察功能 以及更高檢測效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測器。

詳細摘要： 二手日本電子JSM-IT200是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學者易懂的樣品交換導(dǎo)航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察SEM圖像。Zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，Live Analysis*²可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結(jié)果，SMILE VIEWTM Lab能綜合編輯觀察和分析報告等，使它成為一個分析業(yè)務(wù)的軟件。

詳細摘要： 二手日本電子SEM+EDX JSMIT300掃描電子顯微鏡經(jīng)過改進照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號處理系統(tǒng)，不僅能觀察高質(zhì)量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質(zhì)圖像，能滿足您對W-SEM機型的期待，新的鏡筒設(shè)計和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有了顯著的提高。

詳細摘要： 二手蔡司場發(fā)射電鏡SUPRA 40VP是一款高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強性能加上多種納米工具的使用，不用花費大量時間，使高分辨率成像和非導(dǎo)體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類型探頭及配件的選擇。該場發(fā)射電鏡適用于材料領(lǐng)域、失效分析、過程控制，納米技術(shù)等。

詳細摘要： 二手電鏡二手鎢燈絲電鏡觀察樣品表面的形貌，分析系統(tǒng)用聚焦電子束在樣品表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子，背散射電子或吸收電子。電子槍發(fā)射出的電流激發(fā)到樣品表面產(chǎn)生二次電子，通過信號收集和信號轉(zhuǎn)換到達屏幕，可以看到樣品表面的同步掃描照片，實現(xiàn)對樣品表面的形貌的觀察。

詳細摘要： 二手FEI-SEM電鏡 FEI-QUANTA250 FEI Quanta 系列包括六款可變壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡 (ESEM™)。所有這些產(chǎn)品均可滿足工業(yè)工藝控制實驗室、材料科學實驗室和生命科學實驗室的多種樣本和成像要求。

詳細摘要： 二手電鏡 二手日本電子JSM-IT300日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能，多功能，多用途的鎢燈絲掃描電鏡。性的前衛(wèi)性外觀設(shè)計還特別吸引眼球。

詳細摘要： 二手日立噴金儀掃描電子顯微鏡 (sem) 是一種多功能的工具，在大部分時候，無需什么樣品制備，即可提供各種樣品的納米級信息。而在某些情況下，為了獲得更好的sem圖像，會推薦或甚至有必要結(jié)合噴金儀（離子濺射儀）使用sem。在這篇博客中，我們將解釋噴金儀是如何工作的，以及適用的樣品類

詳細摘要： 供應(yīng)日立（二手）場發(fā)射掃描電鏡SEM 430型號掃描電鏡是一款具備超高分辨率的熱場發(fā)射掃描電鏡，主要用于獲得納米尺寸級別的樣品表面形貌信息，可在高真空下實現(xiàn)高壓和低壓的超高分辨率形貌檢測。配備兩種物鏡模式（浸沒式和無場式）。配備紅外CCD檢測相機，極靴內(nèi)二次電子檢測器，通用ET二次電子檢測器，低真空二次電子檢測

詳細摘要： （2手）掃描電鏡SEM+EDX分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統(tǒng)合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的EDS由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制，操作員只用一只鼠標，就可完成從圖像觀測到元素分析的整個過程。

詳細摘要： 二手鎢燈絲電鏡，二手SEM；掃描電鏡分辨率：高真空二次電子像3.0nm（30KV） 掃描電鏡放大倍數(shù)：5×～1000000×，連續(xù)可調(diào) 能譜儀分辨率：MnKα峰的半高寬優(yōu)于127eV； 能譜儀元素測試范圍：Be4— Pu94

詳細摘要： 日立二手電鏡SEM+EDX掃描電子顯微鏡詳細信息該設(shè)備具有新研制的電子光學系統(tǒng)和自動化功能顯示系統(tǒng)有全屏顯示，無閃爍，高像素和實時圖像顯示等優(yōu)異的性能，它還可以實時信號混合并同時顯示兩個不同的檢測器觀測到的互不相同的樣品信息。