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詳細(xì)摘要： 二手 日本電子 SEMIT100掃描電鏡主要特點(diǎn)為全數(shù)字化控制系統(tǒng)，高分辨率、高精度的變焦聚光鏡系統(tǒng)、全對(duì)中樣品臺(tái)及高靈敏度半導(dǎo)體背散射探頭；用于各種材料的形貌組織觀察、金屬材料斷口分析和失效分析。該型號(hào)在很多大學(xué)、研究院所及制造業(yè)被廣泛使用。

詳細(xì)摘要： 二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡：掃描電鏡（SEM）是利用電子束掃描樣品表面，產(chǎn)生二次電子等信號(hào)，通過(guò)檢測(cè)這些信號(hào)來(lái)獲取樣品表面形貌、成分等信息。SEM的優(yōu)點(diǎn)是分辨率高，可觀察到納米級(jí)別的細(xì)節(jié)，景深大，能清晰呈現(xiàn)三維形貌，可同時(shí)進(jìn)行成分分析。

詳細(xì)摘要： 二手ZEISS-FEI掃描電鏡掃描電子顯微鏡作為一種強(qiáng)大的微觀分析工具，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)樣品表面形貌的高分辨率觀察，為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域的研究提供了強(qiáng)大的技術(shù)支持。以其出色的分辨率和廣泛的放大倍數(shù)范圍，能夠滿(mǎn)足不同研究領(lǐng)域的精細(xì)觀察需求。

詳細(xì)摘要： 二手日本電子（SEM）IT-300提供高畫(huà)質(zhì)圖像，能滿(mǎn)足您對(duì) W-SEM 機(jī)型的期待，鏡筒設(shè)計(jì)和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有所提高

詳細(xì)摘要： 二手日本電子SEM+EDX JSMIT300掃描電子顯微鏡經(jīng)過(guò)改進(jìn)照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號(hào)處理系統(tǒng)，不僅能觀察高質(zhì)量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺(tái)進(jìn)行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫(huà)質(zhì)圖像，能滿(mǎn)足您對(duì)W-SEM機(jī)型的期待，新的鏡筒設(shè)計(jì)和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有了顯著的提高。

詳細(xì)摘要： 二手FEI-SEM電鏡 FEI-QUANTA250 FEI Quanta 系列包括六款可變壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡 (ESEM™)。所有這些產(chǎn)品均可滿(mǎn)足工業(yè)工藝控制實(shí)驗(yàn)室、材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)室和生命科學(xué)實(shí)驗(yàn)室的多種樣本和成像要求。

詳細(xì)摘要： （2手）掃描電鏡SEM+EDX分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統(tǒng)合于一體。結(jié)構(gòu)緊湊的EDS由顯微鏡主體系統(tǒng)的電腦控制，操作員只用一只鼠標(biāo)，就可完成從圖像觀測(cè)到元素分析的整個(gè)過(guò)程。

詳細(xì)摘要： 日立SEM二手S-4300掃描電子顯微鏡采用大樣品室的半內(nèi)透鏡設(shè)計(jì)，卻能達(dá)到分辨率，可以與內(nèi)透鏡UHR掃描電鏡相媲美。