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產(chǎn)品簡介
| 背散射電子圖像分辨率 | 4.0nm@30KV | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 二次電子圖象分辨率 | 3.0nm @ 30KV WD 8mmnm | 放大倍數(shù) | ×5~×300,000x |
| 加速電壓 | 0.5KV ~ 30KVkV | 價(jià)格區(qū)間 | 100萬-150萬 |
| 儀器種類 | 六硼化鑭 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,農(nóng)林牧漁,能源,電子/電池,汽車及零部件 |
詳細(xì)介紹
二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡：
SEM "觀察"樣品表面的方式可以比作一個(gè)人獨(dú)自在暗室中使用手電筒（窄光束）掃描墻上的物體。從墻的一側(cè)到另一側(cè)進(jìn)行掃描，手電筒再逐漸向下移動(dòng)掃描，人就可以在記憶中建立起物體的圖像。SEM是用電子束代替了手電筒，并用電子探測器代替眼睛，用觀察屏幕和照相機(jī)作為圖像存儲器。電子是原子中帶負(fù)電荷的粒子。在光鏡中，光子由玻璃透鏡聚焦。在電鏡中，電磁鐵用于聚焦電子。電子束與樣品表面的相互作用會(huì)影響獲得的圖像。SEM可以提供跨微米和納米尺度研究，分辨率通常在3-0.5nm之間，最高的分辨率可以達(dá)到0.4nm。SEM通?？蓪悠返募?xì)節(jié)放大約10倍至30萬倍（底片倍數(shù)的有效放大倍數(shù)）。此外，SEM圖像上通常會(huì)提供一個(gè)刻度條，刻度條用于計(jì)算圖像中特征的大小。
二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡應(yīng)用領(lǐng)域
SEM是一種廣泛應(yīng)用于科學(xué)和工程領(lǐng)域的技術(shù)。最常見的應(yīng)用領(lǐng)域包括材料科學(xué)、生物科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、醫(yī)學(xué)和法醫(yī)學(xué)。SEM還可用于創(chuàng)作數(shù)字藝術(shù)作品。
SEM技術(shù)可以對樣品的形態(tài)進(jìn)行成像（如粉末顆粒，塊狀材料、涂層、切片材料），通過BEE散射電子可以對不同的物相進(jìn)行成像，也可利用生物樣品中的金屬和熒光探針對分子探針進(jìn)行成像，或進(jìn)行微米和納米光刻。
材料科學(xué)：SEM是用于基礎(chǔ)研究、質(zhì)量控制和失效分析的重要工具。它是一種適用于檢測金屬、合金、陶瓷、聚合物和生物材料的技術(shù)。SEM在許多課題中發(fā)揮著關(guān)鍵作用，包括納米管和納米纖維、高溫超導(dǎo)體、介孔結(jié)構(gòu)、合金強(qiáng)度等。如果沒有SEM提供的數(shù)據(jù)，高科技發(fā)展的許多方面--航空航天、電子、能源、催化、環(huán)境、光子學(xué)、化學(xué)--都將無法實(shí)現(xiàn)。
生物科學(xué)：在生物科學(xué)領(lǐng)域，從昆蟲和動(dòng)物組織等大型物體到細(xì)菌等小型物體都可以用SEM進(jìn)行研究。SEM可用于昆蟲學(xué)、考古學(xué)、植物科學(xué)、細(xì)胞研究和分類學(xué)等領(lǐng)域。
地質(zhì)學(xué)：SEM在土壤和地質(zhì)樣品調(diào)查中很常見。通過形態(tài)分析可以了解風(fēng)化過程。通過BSE成像可以看到成分差異。顯微分析可提供樣品中特定元素組成的詳細(xì)信息。因此，SEM是采礦業(yè)非常有用的表征工具。
醫(yī)學(xué)科學(xué)：醫(yī)學(xué)研究人員可使用SEM比較血細(xì)胞和組織樣品，以確定病因。SEM的其他用途還包括研究醫(yī)學(xué)及其對病人的影響，以及研究和開發(fā)新的治療方法。
法醫(yī)學(xué)：在法醫(yī)學(xué)中，警方實(shí)驗(yàn)室使用SEM來檢查和比較證據(jù)，如金屬碎片、油漆、墨水、毛發(fā)和纖維，以提供某人有罪或無罪的證據(jù)。通過仔細(xì)檢查，刑偵人員能夠確定從現(xiàn)場收集到的樣品是否具有與刑偵人員所設(shè)想的情景相匹配的特性。
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