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詳細(xì)摘要： 二手 日本電子JSM IT-200掃描電子顯微鏡利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質(zhì)間的相互作用, 來激發(fā)各種物理信息, 對這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。

詳細(xì)摘要： 二手 耐馳 dsc 200F3差示掃描量熱儀是德國耐馳公司推出的一款差示掃描量熱儀，該產(chǎn)品引入了 DSC 領(lǐng)域的新技術(shù)，重新設(shè)計了傳感器與爐體結(jié)構(gòu)，集結(jié)構(gòu)堅固、易于操作、高靈敏度、高穩(wěn)定性等優(yōu)點(diǎn)為一體，若使用液氮作為冷卻系統(tǒng)，溫度范圍可至 -170℃ ... 600℃。

詳細(xì)摘要： 二手 日本電子 JSM-7610F plus場發(fā)射電鏡 ?是一種優(yōu)良的電子顯微鏡，其核心原理基于場發(fā)射電子源和電子光學(xué)系統(tǒng)。場發(fā)射電鏡利用強(qiáng)電場作用，使得電子通過量子隧道效應(yīng)逸出，形成高亮度、高相干性且能量分散小的電子束。這種電子源相比傳統(tǒng)的熱發(fā)射電子源，具有更高的亮度和更小的電子束直徑，從而實(shí)現(xiàn)更高的分辨率。

詳細(xì)摘要： 二手耐馳 dsc 200F3是一款經(jīng)濟(jì)適用、易操作、多用途的DSC，它的量熱性能絕不遜色于許多研發(fā)級的產(chǎn)品。這系列產(chǎn)品被定位為入門級儀器不是基于性能而是基于選配件的不同。應(yīng)用于科研、教學(xué)和質(zhì)量控制等需要耐用、可靠、基本的DSC的理想測試工具。可用于無人照看的多至50個樣品的順序測試。均包括雙氣路數(shù)字質(zhì)量流量控制器且可選配.

詳細(xì)摘要： 二手 AB 4000液相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀：能為藥物開發(fā)的每一階段包括藥物研發(fā)到臨床試驗(yàn)提供高質(zhì)量的定量分析和定性分析數(shù)據(jù)。此系統(tǒng)優(yōu)異的靈敏度也可確保在食品、環(huán)境樣品中的藥物殘留痕量分析、樣品分析以及臨床研究分析中數(shù)據(jù)的可靠性。結(jié)合功能強(qiáng)大的Analyst軟件，此系統(tǒng)可提供藥物開發(fā)中對DMPK信息的快速訪問。

詳細(xì)摘要： 二手 牛津 EDX X-MaX能譜儀也稱為能量色散X射線譜EDX，是一種定性和定量的X射線微束分析技術(shù)，可以檢測原子序數(shù)(Z) 3的元素信息，盡管對于特定的樣品和設(shè)備配置，原子序數(shù)(Z) =3，鋰元素的檢鋰元素的檢測也是可以實(shí)現(xiàn)的。

詳細(xì)摘要： 二手 日本電子 SEMIT100掃描電鏡主要特點(diǎn)為全數(shù)字化控制系統(tǒng)，高分辨率、高精度的變焦聚光鏡系統(tǒng)、全對中樣品臺及高靈敏度半導(dǎo)體背散射探頭；用于各種材料的形貌組織觀察、金屬材料斷口分析和失效分析。該型號在很多大學(xué)、研究院所及制造業(yè)被廣泛使用。

詳細(xì)摘要： 二手 日立 掃描電鏡SU-3500系列SEM+EDX具有實(shí)現(xiàn)了“3 kV加速電壓7 nm分辨率"的全新電子光學(xué)系統(tǒng), 可實(shí)現(xiàn)實(shí)時立體成像的“實(shí)時立體觀察功能"＊1、以及更高檢測效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測器"＊1它為觀察和分析提出了嶄新的標(biāo)準(zhǔn)。

詳細(xì)摘要： 二手 FEI 掃描電鏡 QUANTA系列 250研究各種各樣的材料，并進(jìn)行結(jié)構(gòu)和成份表征，是目前對掃描電鏡 的主流應(yīng)用要求。FEI QuantaTM FEG系列靈活、通用，足以應(yīng)對當(dāng)今人 們廣博的研究方向這一挑戰(zhàn)?！胺治鋈魏螛悠?，得到所有數(shù)據(jù)"， 在Quanta FEG上可得到表面像和成份像，并可輔以多種附件來確定材 料的性質(zhì)和元素組成。

詳細(xì)摘要： 二手 日本電子 IT-300掃描電鏡經(jīng)過改進(jìn)照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號處理系統(tǒng)，不僅能觀察高質(zhì)量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進(jìn)行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質(zhì)圖像，能滿足您對W-SEM機(jī)型的期待，新的鏡筒設(shè)計和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有了顯著的提高。

詳細(xì)摘要： 進(jìn)口二手 TA dma q800動態(tài)熱機(jī)械分析儀在程序溫度下測量物質(zhì)在振動負(fù)荷下的動態(tài)模量和力學(xué)損耗與溫度、頻率的關(guān)系，對樣品施加一個預(yù)選振幅的正弦應(yīng)變，對于粘彈性樣品，應(yīng)變滯后于應(yīng)力一個相位角，這項技術(shù)是把材料的粘彈性分為兩個分量儲能模量和損耗模量，其比率即為阻尼因子，從輔助環(huán)境溫度升至熔融溫度進(jìn)行溫度掃描，損耗因子展示出一系列的峰，每個峰對應(yīng)一個特定的松弛過程。

詳細(xì)摘要： 二手 耐馳 DMA 242E 動態(tài)熱機(jī)械分析儀 可用于：（1）存儲模量（剛性）；（2）損耗模量（阻尼）；（3）粘彈性；（4）玻璃化轉(zhuǎn)變；（5）軟化溫度；（6）蠕變；（7）松弛；（8）二級相變；（9）固化過程。

詳細(xì)摘要： 二手ETHOS UP 微波消解多功能微波化學(xué)平臺:集微波消解、萃取、熔融、蛋白質(zhì)水解、原位趕酸、濃縮、干燥于一身 能量輸出設(shè)計,采用Power Enable技術(shù)，使微波輸出功率達(dá)到了1900W 創(chuàng)新性的70.5L超大反應(yīng)腔體，具有更高的樣品通量和更高的安全性能 44位100ml高溫高壓微波消解轉(zhuǎn)子，在滿足更大樣品量的同時單次處理樣品數(shù)量更多。

詳細(xì)摘要： 耐馳二手DSC-200f3差示掃描量熱儀是用于測量樣品在一定氣氛及程序溫度下 ,樣品端與參比端熱流或熱功率差隨溫度及時間的關(guān)系，具有能定量測定多種熱力學(xué)和動力學(xué)參數(shù)、寬溫度范圍、高分辨力、高靈敏度、樣品用量少等優(yōu)點(diǎn)。

詳細(xì)摘要： 二手日立SU-8010場發(fā)射電鏡包括SU-8010主機(jī)和E-1045噴鉑噴碳裝置，并配備有EDAX X射線能譜儀。加速電壓為15kV時，分辨率為1.0nm，加速電壓為1kV時，分辨率為1.3nm。

詳細(xì)摘要： 二手HITACHI-SU8010高分辨場發(fā)射掃描電鏡場發(fā)射掃描電鏡可用于材料分析和研究，特別是材料斷口分析、微區(qū)成分分析、各種鍍膜表面形貌分析、層厚測量和顯微組織形貌及納米材料分析等。

詳細(xì)摘要： 二手shimadzu EDX-7000/LEplus SDD檢測器：Amptek產(chǎn)品為X射線熒光光譜儀（XRF）、RoHS分析、空氣環(huán)境測試、土壤、貴金屬、伽瑪射線的探測、考古、空間探測防等客戶提供高質(zhì)量及高可靠性完整X射線熒光光譜分析部件：X射線熒光光譜探測器、X射線光管、電荷靈敏前端放大器、數(shù)字脈沖處理器、電源、新型窗口材料B4C及分析軟件。與此同時，Amptek公司的混合前置放大器。

詳細(xì)摘要： （2）手日本電子JSM-7610Fplus（SEM測試，日本電子JSM-7610FPlus）適用于多種樣品的觀察和分析。實(shí)現(xiàn)了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的進(jìn)一步提升，以嶄新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統(tǒng)，提供穩(wěn)定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進(jìn)行低加速電壓觀察。

詳細(xì)摘要： 二手JSM-7610Fplus場發(fā)射電鏡應(yīng)用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。

詳細(xì)摘要： 進(jìn)口二手dsc-tga-tma-dma：熱分析是指用熱力學(xué)參數(shù)或物理參數(shù)隨溫度變化的關(guān)系進(jìn)行分析的方法。熱分析定義為：“熱分析是測量在程序控制溫度下，物質(zhì)的物理性質(zhì)與溫度依賴關(guān)系的一類技術(shù)。"根據(jù)測定的物理參數(shù)又分為多種方法