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詳細(xì)摘要： 二手 日立 SU8020 高分辨冷場(chǎng)發(fā)射電鏡具有的功能，適用于各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、 背散射電子像觀察及圖像處理。低電壓下通過(guò)在納米尺度上觀察生物樣品如組織、 細(xì)胞、 微生物以及生物大分子等，獲得忠實(shí)原貌的立體感的樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息。 具有高性能X射線能譜儀，能同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)線面元素的定性、 半定量分析，具有形貌、 化學(xué)組分綜合分析能力。

詳細(xì)摘要： SU-8010 日立二手冷場(chǎng)發(fā)射電鏡二次電子像、反射電子像進(jìn)行觀察及圖像處理?？蓪?duì)金屬、陶瓷、巖石礦物、生物等樣品及各種固體材料進(jìn)行觀察和分析研究。電鏡配有高性能X射線能量色散譜儀，簡(jiǎn)稱(chēng)能譜儀（EDS），能在不損壞樣品的同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)、線、面元素的定性、定量分析。具有形貌、化學(xué)組分綜合分析能力。

詳細(xì)摘要： 二手 日立S-4800冷場(chǎng)發(fā)射電鏡觀察和檢測(cè)體相及納米結(jié)構(gòu)的固態(tài)無(wú)機(jī)材料（非磁性）等表面形貌和組成

詳細(xì)摘要： 二手 日立 S-4700 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM+EDX可以觀察和檢測(cè)非均相有機(jī)、無(wú)機(jī)材料，及這些材料在納米、微米級(jí)樣品的表面特征。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。能譜附件可對(duì)樣品進(jìn)行微區(qū)成分分析。

詳細(xì)摘要： 二手 日立 SU-8010 冷場(chǎng)發(fā)射電鏡真空系統(tǒng)采用分子泵和離子泵，抽真空速度快，設(shè)備的真空度高達(dá)10-8Torr。該設(shè)備在高倍模式下放大倍數(shù)100X～300,000 X，在低倍模式下放大倍數(shù)20X～2000；二次電子像的分辨率在加速電壓15KV時(shí)達(dá)到1.0nm，在加速電壓1KV時(shí)達(dá)到10 nm；最大的樣品尺寸是10mm。

詳細(xì)摘要： 二手 日本電子 場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM+EDX:場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗(yàn)、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析?？梢杂^察和檢測(cè)非均相有機(jī)材料、無(wú)機(jī)材料及在上述微米、納米級(jí)樣品的表面特征.

詳細(xì)摘要： 二手 日本電子 JSM-7610F plus場(chǎng)發(fā)射電鏡 ?是一種優(yōu)良的電子顯微鏡，其核心原理基于場(chǎng)發(fā)射電子源和電子光學(xué)系統(tǒng)。場(chǎng)發(fā)射電鏡利用強(qiáng)電場(chǎng)作用，使得電子通過(guò)量子隧道效應(yīng)逸出，形成高亮度、高相干性且能量分散小的電子束。這種電子源相比傳統(tǒng)的熱發(fā)射電子源，具有更高的亮度和更小的電子束直徑，從而實(shí)現(xiàn)更高的分辨率。

詳細(xì)摘要： 二手FIB+雙束FIB+場(chǎng)發(fā)射電鏡在高科技領(lǐng)域，掃描電鏡（SEM）是揭示材料微觀世界的重要工具。美國(guó)FEI公司和賽默飛（Thermo Fisher Scientific）作為電鏡技術(shù)的企業(yè)，其產(chǎn)品在全球范圍內(nèi)被廣泛使用?；窗哺粎R電子有限公司，作為專(zhuān)業(yè)的第三方供應(yīng)商，現(xiàn)提供現(xiàn)貨供應(yīng)的美國(guó)FEI/賽默飛掃描電鏡。

詳細(xì)摘要： 二手SEM+EDX場(chǎng)發(fā)射電鏡:超高分辨率：場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，最大可放大100萬(wàn)倍，提供超高清晰度的圖像。多功能探頭：配備SE（二次電子）、BSE（背散射）、EDS（能譜）和STEM（掃描透射）探頭，能夠?qū)崿F(xiàn)表面形貌觀察和成分分析。

詳細(xì)摘要： sigma500 二手蔡司場(chǎng)發(fā)射電鏡是蔡司公司推出的高性能設(shè)備，它采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，分辨率超過(guò)0.8nm，能提供優(yōu)秀分辨率和分析性能的科研平臺(tái)。這款設(shè)備專(zhuān)注于EDS幾何學(xué)設(shè)計(jì)，可以獲取分析性能，而且有多種探測(cè)器選擇，可以精準(zhǔn)匹配您的應(yīng)用程序，獲取微小粒子、表面、納米結(jié)構(gòu)等多種圖像信息

詳細(xì)摘要： 二手日立SU-8010場(chǎng)發(fā)射電鏡包括SU-8010主機(jī)和E-1045噴鉑噴碳裝置，并配備有EDAX X射線能譜儀。加速電壓為15kV時(shí)，分辨率為1.0nm，加速電壓為1kV時(shí)，分辨率為1.3nm。

詳細(xì)摘要： 二手HITACHI-SU8010高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡可用于材料分析和研究，特別是材料斷口分析、微區(qū)成分分析、各種鍍膜表面形貌分析、層厚測(cè)量和顯微組織形貌及納米材料分析等。

詳細(xì)摘要： 二手sem+edx電鏡掃描電子顯微鏡（SEM）是在各種科學(xué)和工業(yè)應(yīng)用中用來(lái)以高分辨率檢查樣品表面的強(qiáng)大工具。與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡不同，SEMs使用電子而不是光來(lái)產(chǎn)生圖像。在SEM中，將聚焦的電子束掃描過(guò)樣品表面，電子與樣品之間的相互作用產(chǎn)生各種信號(hào)，被檢測(cè)到并轉(zhuǎn)換成圖像。初級(jí)電子束對(duì)表面進(jìn)行高精度掃描，以便對(duì)樣品的地形和形態(tài)進(jìn)行詳細(xì)檢查。SEM的主要優(yōu)點(diǎn)之一是能夠?qū)崿F(xiàn)高分辨率成像。

詳細(xì)摘要： 二手蔡司場(chǎng)發(fā)射電鏡：具有出色的探測(cè)效率，能夠輕松地實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像。無(wú)論是在高真空還是在可變壓力模式下，*高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對(duì)任意樣品進(jìn)行成像和分析時(shí)都具備靈活性，為您在材料科學(xué)研究、生命科學(xué)研究、工業(yè)實(shí)驗(yàn)室或是顯微成像平臺(tái)中**各種類(lèi)型樣品在微觀世界中清晰、真實(shí)的圖像，提供靈活、可靠的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡技術(shù)和方案。

詳細(xì)摘要： 二手蔡司冷場(chǎng)電鏡，二手熱場(chǎng)場(chǎng)發(fā)射電鏡SUPRA 40是一款高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強(qiáng)性能加上多種納米工具的使用，不用花費(fèi)大量時(shí)間，使高分辨率成像和非導(dǎo)體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類(lèi)型探頭及配件的選擇。該場(chǎng)發(fā)射電鏡適用于材料領(lǐng)域、失效分析、過(guò)程控制，納米技術(shù)等。

詳細(xì)摘要： 二手蔡司場(chǎng)發(fā)射電鏡，蔡司SUPRA 40VP場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率，能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。該儀器利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎(chǔ)上，低電壓下通過(guò)在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細(xì)胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實(shí)原貌的立體感樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息

詳細(xì)摘要： 二手蔡司場(chǎng)發(fā)射電鏡SEM+EDX SUPRA25系列產(chǎn)品配備有經(jīng)過(guò)改進(jìn)的第三代GEMINI®鏡筒、概念新穎的樣品臺(tái)、智能化硬件控制板和新型高效率的透鏡內(nèi)二次電子探測(cè)器。SUPRA™系列場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡是卡爾蔡司半導(dǎo)體事業(yè)部的納米技術(shù)系統(tǒng)部向市場(chǎng)推出的功能最多的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡。具有當(dāng)前儀器所具有的所有特征：如在圖像質(zhì)量超高分辨率、工作電壓切換方便、出色的束流穩(wěn)定性、全分析型樣品室。

詳細(xì)摘要： 二手蔡司場(chǎng)發(fā)射電鏡SUPRA 40VP是一款高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡，擁有第三代GEMINI 鏡筒，可變壓強(qiáng)性能加上多種納米工具的使用，不用花費(fèi)大量時(shí)間，使高分辨率成像和非導(dǎo)體樣本的分析成為可能，超大的樣品室適合各種類(lèi)型探頭及配件的選擇。該場(chǎng)發(fā)射電鏡適用于材料領(lǐng)域、失效分析、過(guò)程控制，納米技術(shù)等。

詳細(xì)摘要： 二手電鏡二手鎢燈絲電鏡觀察樣品表面的形貌，分析系統(tǒng)用聚焦電子束在樣品表面逐點(diǎn)掃描成像，成像信號(hào)可以是二次電子，背散射電子或吸收電子。電子槍發(fā)射出的電流激發(fā)到樣品表面產(chǎn)生二次電子，通過(guò)信號(hào)收集和信號(hào)轉(zhuǎn)換到達(dá)屏幕，可以看到樣品表面的同步掃描照片，實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品表面的形貌的觀察。

詳細(xì)摘要： 供應(yīng)日立（二手）場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡SEM 430型號(hào)掃描電鏡是一款具備超高分辨率的熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，主要用于獲得納米尺寸級(jí)別的樣品表面形貌信息，可在高真空下實(shí)現(xiàn)高壓和低壓的超高分辨率形貌檢測(cè)。配備兩種物鏡模式（浸沒(méi)式和無(wú)場(chǎng)式）。配備紅外CCD檢測(cè)相機(jī)，極靴內(nèi)二次電子檢測(cè)器，通用ET二次電子檢測(cè)器，低真空二次電子檢測(cè)