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ZR-7220型便攜式甲烷非甲烷總烴分析儀 本儀器能夠滿足固定源有組織排放時高濕、顆粒物污染的工況下對廢氣中的NMHC進行測量，其廣泛應用于有機化工廠、表面涂裝...

ZR-3211H型便攜式紫外煙氣綜合分析儀 采用紫外差分吸收光譜技術測量煙氣中SO2、NO、NO2和NH3，可選O2、CO、H2S、CO2傳感器測量氣體的濃度，...

ZR-3260E型自動煙塵煙氣綜合測試儀 是采用等速采樣原理，濾膜(濾筒)稱重的方法測量煙塵質(zhì)量濃度；

ZR-3260D型低濃度自動煙塵煙氣綜合測試儀 是采用等速采樣原理，濾膜(濾筒)稱重的方法測量煙塵質(zhì)量濃度；

ZR-3260型自動煙塵煙氣綜合測試儀 用于固定污染源中顆粒物的采集、SO2和NOX等有毒有害氣體的測量、除塵脫硫效率的測定；煙道溫度、動壓、靜壓、含濕量測量及...

ZR-3160型油氣回收多參數(shù)檢測儀 產(chǎn)品采用高亮防爆工業(yè)級手操器、高性能處理器、傳感器以及輕質(zhì)高強度材料，力求達到安全、穩(wěn)定、可靠的高品質(zhì)。適用于加油站的安全...

多功能分立器件測試系統(tǒng) 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態(tài)參數(shù)測試。

功率器件流水線全靜態(tài)參數(shù)自動測試儀 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態(tài)參數(shù)測試。

分立器件測試儀系統(tǒng) 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態(tài)參數(shù)測試。

IGBT靜態(tài)參數(shù)測試儀設備 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態(tài)參數(shù)測試。

半導體分立器件光耦適配器測試儀 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態(tài)參數(shù)測試。

晶體管直流參數(shù)測試儀設備 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態(tài)參數(shù)測試。

功率電子器件正向壽命試驗系統(tǒng) 測試一個器件周期為80ms，依次測試完成22個器件后結束測試，之后自動切換到下一個設定電流下測試，直到測試完成。

碳化硅器件浪涌電流測試設備 主要是實現(xiàn)測試碳化硅器件在開通瞬間產(chǎn)生最大承受電流Ipp及在關斷瞬間產(chǎn)生最大沖擊電流IC的實驗。

高壓反偏設備 在設定電壓（反偏電壓一直加）下對22個器件的漏電流依次進行測試 在設定電壓（反偏電壓一直加）下對22個器件的漏電流依次進行測試

雪崩測試儀（電壓耐量測試設備） 設備滿足電壓在5000V及以下范圍內(nèi)二極管、三極管、MOS管及IGBT等器件的測試需求。計算機系統(tǒng)控制，具有波形顯示功能。

特大功率碳化硅器件測試儀系統(tǒng) 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態(tài)參數(shù)測試。

分立器件測試系統(tǒng) 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態(tài)參數(shù)測試。

功率器件流水線全靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng) 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態(tài)參數(shù)測試。

SiC雪崩能力測試儀 單管及模塊、整流橋、可控硅、光耦、PIM及IPM模塊等九大類半導體分立器件全靜態(tài)參數(shù)測試。