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EMMI微光顯微鏡 具有相同的原理和功能。兩種探測光子的傳感器都是由電子-空穴復合和熱載流子觸發(fā)的。

微光顯微鏡 是利用高增益相機/探測器來檢測由某些半導體器件缺陷/失效發(fā)出的微量光子的一種設(shè)備。

EMMI半導體芯片檢測微光顯微鏡 是利用高增益相機/探測器來檢測由某些半導體器件缺陷/失效發(fā)出的微量光子的一種設(shè)備。

等離子體納米表面處理升級改造系統(tǒng) 等離子體改性強化換熱器服務(wù)于工業(yè)生產(chǎn)、公共建筑、住宅建筑等的采暖、空調(diào)、制冷、生活熱水及熱電系統(tǒng)的換熱與冷凝。

薄膜熱膨脹系數(shù)測定儀 導熱系數(shù)是建筑材料最重要的熱濕物性參數(shù)之一，與建筑能耗、室內(nèi)環(huán)境及很多其他熱濕過程息息相關(guān)。

薄膜熱導率測試系統(tǒng) 導熱系數(shù)是建筑材料最重要的熱濕物性參數(shù)之一，與建筑能耗、室內(nèi)環(huán)境及很多其他熱濕過程息息相關(guān)。

等離子體納米改良性升級系統(tǒng) 等離子體改性強化換熱器服務(wù)于工業(yè)生產(chǎn)、公共建筑、住宅建筑等的采暖、空調(diào)、制冷、生活熱水及熱電系統(tǒng)的換熱與冷凝。

原子層沉積表面改造提升處理系統(tǒng) 存儲電容器絕緣層-銅連線間的高縱橫比擴散勢壘區(qū)有機發(fā)光二極管和聚合物的無針孔鈍化層鈍化晶體硅太陽能電池

原子層沉積表面改性設(shè)備分子涂層 存儲電容器絕緣層-銅連線間的高縱橫比擴散勢壘區(qū)有機發(fā)光二極管和聚合物的無針孔鈍化層鈍化晶體硅太陽能電池

ITC57300 IGBT半導體分立器件動態(tài)參數(shù)系統(tǒng) 是一種用于工程與技術(shù)科學基礎(chǔ)學科領(lǐng)域的儀器。是一種用于工程與技術(shù)科學基礎(chǔ)學科領(lǐng)域的儀器。

ITC57300半導體分立器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng) 是一種用于工程與技術(shù)科學基礎(chǔ)學科領(lǐng)域的儀器。是一種用于工程與技術(shù)科學基礎(chǔ)學科領(lǐng)域的儀器。

等離子體納米改性系統(tǒng) 等離子體改性強化換熱器服務(wù)于工業(yè)生產(chǎn)、公共建筑、住宅建筑等的采暖、空調(diào)、制冷、生活熱水及熱電系統(tǒng)的換熱與冷凝。

供應(yīng)液態(tài)冷熱沖擊試驗箱 用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品...

液態(tài)冷熱沖擊試驗機供應(yīng)商 用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食...

ITC57300IGBT分立器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng) 是一種用于工程與技術(shù)科學基礎(chǔ)學科領(lǐng)域的儀器。是一種用于工程與技術(shù)科學基礎(chǔ)學科領(lǐng)域的儀器。

半導體分立器件靜態(tài)式參數(shù)測試儀 是一種用于工程與技術(shù)科學基礎(chǔ)學科領(lǐng)域的儀器。是一種用于工程與技術(shù)科學基礎(chǔ)學科領(lǐng)域的儀器。

半導體SiC動態(tài)參數(shù)測試儀 是一種用于工程與技術(shù)科學基礎(chǔ)學科領(lǐng)域的儀器。是一種用于工程與技術(shù)科學基礎(chǔ)學科領(lǐng)域的儀器。

半導體參數(shù)測試儀 是一種用于工程與技術(shù)科學基礎(chǔ)學科領(lǐng)域的儀器。是一種用于工程與技術(shù)科學基礎(chǔ)學科領(lǐng)域的儀器。

ZR-6010氣溶膠光度計 用于檢測高效過濾器是否有泄露的一套專用檢測設(shè)備。儀器符合相關(guān)國家和行業(yè)標準，可快速實現(xiàn)高效過濾器的氣溶膠上游和下游濃度檢測，并實時顯...

ZR-A01型二級安德森采樣頭采用慣性撞擊原理，既能測定空氣中微生物的總數(shù)，又能區(qū)分可吸入微粒和不可吸入微粒的數(shù)量。采樣頭每級中放置一個裝有瓊脂培養(yǎng)基的培養(yǎng)皿，...