旋轉(zhuǎn)環(huán)盤電極（環(huán)盤/圓盤） 參考價：面議
旋轉(zhuǎn)圓盤電極儀（環(huán)盤）：基于流體動力學控制旋轉(zhuǎn)環(huán)盤電化學測量用的高精度電極旋轉(zhuǎn)儀，RRDE-3A 的轉(zhuǎn)速是由 PWM( 脈寬調(diào)制 ) 信號進行控制。 電極小巧且...
白光干涉儀 參考價：面議
白光干涉垂直掃描和移相干涉測量法，0.1nm臺階，采用TotalFocus 技術(shù)，全視場真彩色圖像。
三維光學輪廓儀 參考價：面議
多模組三維光學輪廓儀標配ZDot白光共聚焦逐層成像，可選裝多模式光學系統(tǒng)。
探針式輪廓儀（臺階儀） 參考價：面議
探針式輪廓儀（臺階儀）源自AFM的光學杠桿技術(shù)，精確測量臺階高度及表面輪廓。
石英晶體微天平 參考價：面議
來自Stanford Research的經(jīng)濟實用的石英晶體微天平
電動涂膜機 參考價：面議
電動涂膜樣品均勻，厚度精確可控。
紅外熱像儀 參考價：面議
全新1024級分辨率——TiX1060紅外熱成像儀，配備超像素技術(shù)，可增強至314萬像素。
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng) 參考價：面議
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)DAQ6510 采用 6½ 位分辨率和 15 個內(nèi)置測量功能進行測量。 執(zhí)行低電流、低電阻和溫度測量，并使用內(nèi)置數(shù)字化器查看瞬態(tài)信號。
數(shù)據(jù)采集系統(tǒng) 參考價：面議
Keysight DAQ970A/973A數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)內(nèi)置六位半數(shù)字萬用表，可測量和轉(zhuǎn)換12 種不同的輸入信號，采用主機+插入式模塊設(shè)計。
勻膠旋涂儀 參考價：面議
勻膠旋涂儀又名勻膠機、旋涂儀，美國Laurell勻膠機650系列勻膠機適用于半導體、硅片、晶片、基片、導電玻璃及制版等表面涂覆工藝。
原子層沉積系統(tǒng) 參考價：面議
原子逐層沉積，致密性高，厚度精確可控的ALD鍍膜系統(tǒng)。
全自動化學吸附儀 參考價：面議
全自動化學吸附儀，主要用于催化劑和催化反應(yīng)研究。
真空封管機 參考價：面議
真空封管機可實現(xiàn)樣品的無氧無水真空密封或高溫固相合成，整套系統(tǒng)由主機、氫氧機、真空泵、管接頭等組成。
比表面及孔隙度分析儀 參考價：面議
MicrotracBEL比表面及孔隙度分析儀采用容量法測定比表面和孔徑分布。
Zeta電位及納米粒度分析儀 參考價：面議
Zeta電位及納米粒度分析儀采用先進的“Y"型光纖探針光路設(shè)計，配置膜電極產(chǎn)生微電場，操作簡單，測量迅速，無需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導致的靜止層，無需外加...
激光粒度儀 參考價：面議
靜態(tài)激光衍射法/動態(tài)圖像分析法，三激光設(shè)計，無需預熱，即開即用。
光學接觸角測量儀 參考價：面議
采用精密自動滴液裝置，液滴大小與位置精確可控，高質(zhì)量相機確保成像清晰。
全自動表面張力儀 參考價：面議
內(nèi)置高精度微天平，自動化測試。
熒光分光光度計 參考價：面議
熒光分光光度計采用高速三維熒光采集，用于高靈敏度和寬動態(tài)范圍的熒光光譜和生物發(fā)光、化學發(fā)光、電致發(fā)光光譜測量，可測量熒光量子產(chǎn)率和熒光量子效率。
紫外分光光度計（UV-VIS-NIR） 參考價：面議
SolidSpec-3700i/3700i DUV具有高靈敏度及寬波段測試范圍、超大樣品室、三檢測器系統(tǒng)、遵循ER/ES法規(guī)要求，更強的數(shù)據(jù)管理能力
紫外分光光度計（UV-VIS-NIR） 參考價：面議
UV-3600i Plus 紫外可見近紅外分光光度計具有雙光柵單色器的設(shè)計，標配覆蓋紫外-可見-近紅外區(qū)的三檢測器，保證全波長檢測的靈敏度。豐富可選的附件可以滿...
紫外分光光度計（UV-VIS） 參考價：面議
UV-2600i/2700i是一個通用，研究級的分光光度計，可用于廣泛的領(lǐng)域中，并能簡易擴展，以滿足測定樣品的要求。
傅里葉變換紅外光譜儀 參考價：面議
IRTracer-100提升干涉儀、檢測器性能，使SN比高達60,000:1，實現(xiàn)本檔次儀器的高靈敏度，同時支持高速反應(yīng)跟蹤。與操作性能得以提高的 LabSol...
傅里葉變換紅外光譜儀 參考價：面議
傅里葉變換紅外光譜儀經(jīng)濟型，操作方便，可提供同檔次儀器中的可靠信噪比，自動化的分析程序使其在數(shù)據(jù)處理及分析時更容易。
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