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深圳市矢量科學儀器有限公司

光譜橢偏儀

參  考  價:面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號UNECS系列

品牌ULVAC/日本愛發(fā)科

廠商性質經(jīng)銷商

所在地日本

更新時間:2024-09-04 15:39:06瀏覽次數(shù):434次

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產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
應用領域 化工,電子/電池
UNECS系列是可以高速、高精度測量薄膜膜厚和折射率的分光橢偏儀。采用的測量方式,實現(xiàn)了高速測量和機體的小型化。
我們的產(chǎn)品陣容包括便攜式,自動式和對應真空環(huán)境的設備內(nèi)置式類型。

1. 產(chǎn)品概述:

UNECS系列是可以高速、高精度測量薄膜膜厚和折射率的分光橢偏儀。采用的測量方式,實現(xiàn)了高速測量和機體的小型化。

我們的產(chǎn)品陣容包括便攜式,自動式和對應真空環(huán)境的設備內(nèi)置式類型。

2. 特點

高速測定
快照方法可實現(xiàn)高達20 ms的高速測量。

適用于可見光譜:
波長范圍可選標準類型(530nm至750nm)和可見光譜類型(380nm至760nm)。

緊湊型傳感器單元:
光發(fā)射和接收的傳感器僅由沒有旋轉機構的光學部件組成,因此非常輕且緊湊,并且不需要定期維護。

豐富的產(chǎn)品陣容:
產(chǎn)品陣容應用廣泛,包括如便攜類型,手動/自動平臺類型,大型基板類型,以及支持大氣/真空環(huán)境的內(nèi)置類型。

3. 用途

透明或半透明薄膜(氧化膜,氮化膜,抗蝕劑,ITO等)的膜厚,折射率,消光系數(shù)的測量


激光干涉儀

用于SENTECH Instruments等離子系統(tǒng)的SENTECH

相位噪聲測量

是德科技提供專用的相位噪聲分析儀系統(tǒng),可以簡化您的相位噪聲測量,并大限

便攜式示波器

便攜式示波器某些測試要求使用更便攜、可堆疊的儀器進行專業(yè)級測量。 但是

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